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Table 4.
Best-fit parameters from the X-ray spectral analysis.
| Source | W-stat/d.o.f. | Counts (a) | Γ | F0.5 − 2 | F2 − 10 | L2 − 10 | L2 keV | αOX |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| pn/MOS (b) | 10−16 erg s−1 cm−2 | 10−16 erg s−1 cm−2 | 1044 erg s−1 | 1044 erg s−1 | ||||
| J1342 | 392.7/319 | 75/ 48 |
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| J1120 | 177.0/157 | 42/ 46 |
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| J0020 | 156.0/153 | 27/ 20 |
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| J0244 | 147.5/157 | 80/ 62 |
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| J231.6 | – | – | 2.0 (c) | < 13.56 (d) | < 46.51 (d) | < 10.70 (d) | < 3.32 (d) | < − 1.69 (d) |
| – | – | 2.4 (c) | < 13.28 (d) | < 42.87 (d) | < 13.42 (d) | < 5.65 (d) | < − 1.60 (d) | |
| J036.5 | 182.0/156 | 24/ 28 |
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| J011 | – | – | 2.0 (c) | < 13.78 (d) | < 49.85 (d) | < 9.40 (d) | < 2.92 (d) | < − 1.54 (d) |
| – | – | 2.4 (c) | < 13.61 (d) | < 45.66 (d) | < 11.64 (d) | < 4.90 (d) | < − 1.45 (d) | |
| J083.8 | 178.0/158 | 53/ 42 |
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| J0050 | 153.4/154 | 31/ 35 |
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| J029 | 192.8/157 | 54/ 19 |
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| J0224 | 180.0/155 | 71/ 48 |
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| J0100 | 146.7/161 | 206/ 156 |
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Notes.
(d)
90% upper limit from pn photometry from Table 3 assuming a power-law with the fixed Γ.
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