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Table 4.

Best-fit parameters from the X-ray spectral analysis.

Source W-stat/d.o.f. Counts (a) Γ F0.5 − 2 F2 − 10 L2 − 10 L2 keV αOX
pn/MOS (b) 10−16 erg s−1 cm−2 10−16 erg s−1 cm−2 1044 erg s−1 1044 erg s−1
J1342 392.7/319 75/ 48
J1120 177.0/157 42/ 46
J0020 156.0/153 27/ 20
J0244 147.5/157 80/ 62
J231.6 2.0 (c) < 13.56 (d) < 46.51 (d) < 10.70 (d) < 3.32 (d) <  − 1.69 (d)
2.4 (c) < 13.28 (d) < 42.87 (d) < 13.42 (d) < 5.65 (d) <  − 1.60 (d)
J036.5 182.0/156 24/ 28
J011 2.0 (c) < 13.78 (d) < 49.85 (d) < 9.40 (d) < 2.92 (d) <  − 1.54 (d)
2.4 (c) < 13.61 (d) < 45.66 (d) < 11.64 (d) < 4.90 (d) <  − 1.45 (d)
J083.8 178.0/158 53/ 42
J0050 153.4/154 31/ 35
J029 192.8/157 54/ 19

J0224 180.0/155 71/ 48
J0100 146.7/161 206/ 156

Notes.

(a)

0.3–7 keV net-counts.

(b)

MOS1+MOS2 counts.

(c)

fixed parameter.

(d)

90% upper limit from pn photometry from Table 3 assuming a power-law with the fixed Γ.

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