X–ray facility for the ground calibration of the X–ray monitor JEM-X on board INTEGRAL
G. Loffredo, C. Pelliciari, F. Frontera, V. Carassiti, S. Chiozzi, F. Evangelisti, L. Landi, M. Melchiorri, S. Squerzanti, S. Brandt, C. Budtz-Joergensen, S. Laursen, N. Lund, J. Polny and N. J. Westergaard
A&A, 411 1 (2003) L239-L242
DOI: https://doi.org/10.1051/0004-6361:20031402
